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测量系统的分辨力2017-11-17 22:17:43
测量系统的分辨力(discrimination)是指测量系统识别并反映被测物理量最微小变化的能力。U05J4B48测量系统的分辨力不够高,就无法正确识别过程的波动,因而影响对测量结果的定量描述。...[全文]
测量系统分析 2017-11-17 22:16:28
测量数据质董由在稳定条件下运行的某一测量系统得到的多次测董结果的统计特性确定,其中,U05GU4B48测董系统是指与进行测量有关的任何东西:人、测量丁具、材料、方法和环境。在这里,我们把“测量系...[全文]
分析手法:开路,不排除封装制程相关2017-11-16 20:33:44
(1)失效模式:Burn-in(老化)16小时器件Pin1o连续性Ⅱ开路失效。SGM2019-1.8YN5G(2)分析手法:开路,不排除封装制程相关。外观日检后运用XRay(...[全文]
聚焦离子束(RIE)2017-11-15 20:33:49
聚焦离子束(RIE),特别是现代IC失效分析实验审必备的双束FIB,因其具有定点切割和同步扫描电镜观察,金属、介质沉积功能和增强刻蚀功能,TLC1543CN广泛用于透射电镜样品制备,在线缺陷观察...[全文]
FA报告2017-11-13 20:29:00
总结结论、提出建议和改正措施,如(addFAReportComponentandFormathere):SMDA15C.TBT(1)失效原囚:以半导体器件失效机理的有关理论为根据,...[全文]
失效定位2017-11-13 20:27:42
利用多种不同的技术,在每个芯片的几十万到几千万个甚至上亿个元件中,缩小导致失效的范围。SL1612C在深亚微米领域集成电路进行失效分析,找到失效部位并进行该部位的失效机理分析是整个失效分析中最关...[全文]
MEEF计算是针对缺陷列表而不是全芯片的设计2017-11-12 16:56:18
我们对在全芯片OPC验证中检查出来的热点进行了MEEF分析。原则上,基于任R10706NB何设计的缺陷列表可以用于分析MEEF的敏感性,其思想是探测ΘPC的不相容边沿以及过滤出最敏感的热点,这个...[全文]
GsT CMP的挑战2017-11-11 18:47:10
GST是一种合金材料,Ge(锗)、Sb(锑)和Te(碲)分别属于第四族、第五族和第六族元素,其得失老虎机的能力各不相同,表现为在氧化剂中的被氧化程度各不相同,Ge(锗)和Sb(锑)较容易被氧化而形...[全文]
计时电路2017-11-9 12:30:09
(1)计时电路H1012T通过分析数字钟的功能,该设计需要一个模为24的计数器构成小时的计数,两个模为60的计数器实现分和秒的计数,三个计数器之间构成进位关系,即秒计数器为分计数器...[全文]
第一级采用差分放大电路2017-11-9 12:17:48
电路温漂是指环境温度、电流电压变化导致工作点漂移的现象。温漂会使放大电路产生非线性失真,严重时甚至会把输出信号淹没,H0018CBWU使放大电路无法正常放大。解决温度漂移的方法可以...